XRF能量色散X射線(xiàn)熒光分析儀
德國菲希爾 XRF能量色散X射線(xiàn)熒光分析儀
我們有您需要的:在X射線(xiàn)熒光分析(XRF分析)領(lǐng)域擁有多年的綜合專(zhuān)業(yè)知識!您將獲得最佳解決方案,尤其是針對您的測量任務(wù)–我們承諾!
XRF能量色散X射線(xiàn)熒光分析儀 快速、簡(jiǎn)單、無(wú)損-這是采用Fischer XRF測量技術(shù)的XRF分析代表的意義!X射線(xiàn)束使測量樣品中的原子電離。探測器檢測發(fā)生的熒光輻射,內部開(kāi)發(fā)的軟件處理信號。
必須注意細節:衡量成功與否與每個(gè)組成部分都息息相關(guān)!
X射線(xiàn)管和陽(yáng)極材料:
小零件,有大影響!XRF設備的“心臟",即X射線(xiàn)發(fā)生器,由一個(gè)帶有鎢、銠、鉬或鉻陽(yáng)極的標準或微聚焦射線(xiàn)管組成。這些部件決定了達到哪種測量精度和哪種能譜。
濾波器:
只有必要的東西才能通過(guò):X射線(xiàn)束通過(guò)濾波器,以降低相關(guān)能量范圍內的背景噪聲,從而對來(lái)自?xún)H以低濃度存在的材料的信號實(shí)現更高的靈敏度。
孔徑和X射線(xiàn)光學(xué)元件:
菲舍爾的聚焦!作為全球僅有的兩家多毛細管光學(xué)器件的制造商之一,我們能夠將大部分初級輻射集中在一個(gè)微小的測量點(diǎn)上。
探測器:
只有在Fischer,您可以選擇3種不同的探測器類(lèi)型,以實(shí)現測量任務(wù)的最佳解決方案:比例計數管、硅PIN二極管和硅漂移探測器。
X射線(xiàn)熒光分析的基礎和最重要的儀器性能在過(guò)去,
X射線(xiàn)熒光分析(XRF)主要用于地質(zhì)學(xué)。如今,它已成為工業(yè)和實(shí)驗室的關(guān)鍵技術(shù)。這種方法非常通用:它可以檢測從鈉到鈾的所有相關(guān)化學(xué)元素
XRF通常用于材料分析,即確定樣品中給定物質(zhì)的含量,如測量珠寶中的黃金含量或根據《有害物質(zhì)限制》(RoHS)指令檢測日常物品中的有害物質(zhì)。此外,可以使用XRF測量鍍層的厚度:它快速、環(huán)保且無(wú)損。這就是測量是如何進(jìn)行的當X射線(xiàn)設備開(kāi)始測量時(shí),X射線(xiàn)管會(huì )發(fā)出高能輻射,這也被稱(chēng)為‘初級’輻射。當這些X射線(xiàn)擊中樣品中的一個(gè)原子時(shí),它們會(huì )增加能量–即它們“激發(fā)"原子 - 使原子向其原子核附近發(fā)射電子,這個(gè)過(guò)程被稱(chēng)為“電離"。由于這種狀態(tài)是不穩定的,一個(gè)來(lái)自更高電子層的電子移動(dòng)來(lái)填充空隙,從而發(fā)射出“熒光"輻射。
這種二次輻射的能量水平類(lèi)似指紋一樣:它是每個(gè)元素的特征。探測器接收熒光并將信號數字化。在信號經(jīng)過(guò)處理后,設備產(chǎn)生一個(gè)光譜:檢測到的光子的能級在x軸上繪制,其頻率(計數率)在y軸上繪制。樣品中的元素可以從光譜中波峰的位置(x軸方向)來(lái)識別。這些峰的水平(y軸方向)提供了有關(guān)元素濃度的信息。